离子切片仪用于TEM / STEM / SEM / EPMA / AUGER的创新的样品制备方法

利用离子切片仪除了需要将样品切成矩形薄片外不需要常规的透射电镜制样过程(电解液或前期处理的手工研磨,凹坑机研磨)可直接制备薄膜样品

离子切片仪制备薄膜样品比传统的制备工具快速,简单. 低能量,低角度(0° 到 6°)的氩气离子束通过遮光带照射样品,彻底消除离子束对样品的损伤.即使是柔软的材料,样品制备质量也极好.离子切片仪能够有效制备不同成份的样品甚至含有多孔合成物.

特点:

• 高质量的透射电镜前期制备
• 快速加工
• 无需复杂前处理
• 最小限度表面损伤