仪器简介：

　　CMI243是一款灵便易用的仪器，专为金属表面处理者设计，配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力，使其成为紧固件行业应用的理想工具。

　　采用基于相位电涡流技术，CMI243手持式测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。

　　技术参数：

　　误差 ±3%

　　分辨率 0.1um

　　最小曲率半径 1.2mm(凸);1.5mm(凹)

　　最小测量面积 φ2.5mm

　　最小基体厚度 0.35mm

　　显示 3位LCD数显

　　测量单位 um-mils可选

　　校准方式 精密两点校准

　　统计数据 平均值、标准偏差S、读数个数n(9,999个)

　　最大值max、最小值min

　　接口 232串口

　　电源 1节9V电池

　　仪器尺寸 150x80x30mm

　　仪器重量 260g

　　主要特点：

　　便携式、无损测量各种金属镀层

　　精度高、稳定性好

　　测量精度可与X射线测厚仪媲美

　　可测量各种微型部件(φ2.5mm)

　　232接口，可连接打印机或电脑